特許
J-GLOBAL ID:200903088301534205

均質化法を用いる構造解析方法、均質化法を用いる構造解析装置及び均質化法を用いる構造解析プログラム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 吉田 研二 ,  石田 純
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-311261
公開番号(公開出願番号):特開2007-122242
出願日: 2005年10月26日
公開日(公表日): 2007年05月17日
要約:
【課題】構造解析において、1方向にのみ周期性を有し、断面内で不均質なマクロ構造の構造計算時間を短縮することである。【解決手段】複数の微小要素からなり3次元的に不均質な変形特性を有するミクロ構造が1方向にのみ周期的に配置されるマクロ構造体の構造解析方法は、マクロ構造体における周期性の単位であるユニットセルを特定し(S10)、ユニットセルの均質な材料特性を有するものとして均質化弾性係数を求め(S12,S14)、マクロ構造体を均質化弾性特性を有するものとしてモデル化し、周期性配置の1方向に沿った任意の位置における変形を求めるマクロスケール解析を行い(S16)、得られた周期性配置の1方向に沿った任意の位置における変形を、その位置におけるユニットセルを構成する各微小要素のそれぞれに与えてそれらの局所的応答を得るローカル解析を行う(S18)。【選択図】図3
請求項(抜粋):
複数の微小要素からなり3次元的に不均質な変形特性を有するミクロ構造が1方向にのみ周期的に配置されるマクロ構造体の構造解析方法であって、 マクロ構造体におけるミクロ構造の繰り返し単位であるユニットセルを特定する工程と、 ユニットセルを、一体の均質な材料特性を有するものとしてモデル化したときの変形力と変形とを関連付ける均質化弾性係数を求める均質化工程と、 マクロ構造体を、均質化弾性特性を有するものとしてモデル化し、変形力に対する任意の位置における変形を求めるマクロスケール解析工程と、 マクロ解析工程によって得られた任意の位置における変形を、その位置におけるユニットセルを構成する各微小要素のそれぞれに与えて、各微小要素の局所的応答をえるローカル解析工程と、 を含むことを特徴とする均質化法を用いる構造解析方法。
IPC (1件):
G06F 17/50
FI (1件):
G06F17/50 612J
Fターム (3件):
5B046AA07 ,  5B046JA07 ,  5H027AA02
引用特許:
出願人引用 (1件)
引用文献:
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