特許
J-GLOBAL ID：200903088327134353
X線検査装置
発明者：
,
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小野 由己男 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-338824
公開番号（公開出願番号）：特開2002-148211
出願日： 2000年11月07日
公開日（公表日）： 2002年05月22日
要約：
【要約】【課題】 使用中にX線照射器やX線ラインセンサが使用に耐えない状態になることが抑えられるX線検査装置を提供する。【解決手段】 X線検査装置10は、X線を使用して物品の検査を行う装置であって、X線を照射するX線照射器13と、X線ラインセンサ14と、検出レベルファイル25aとを備えている。X線ラインセンサ14は、X線照射器13からのX線を検知する。検出レベルファイル25aは、X線ラインセンサ14の検出レベルの経時変化を記憶する。
請求項（抜粋）：
X線を使用して物品の検査を行うX線検査装置であって、X線を照射するX線源と、前記X線源からのX線を検知するX線ラインセンサと、前記X線ラインセンサの検出レベルの経時変化を記憶する記憶部と、を備えたX線検査装置。
Fターム (18件)：
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001DA08
, 2G001FA01
, 2G001FA06
, 2G001GA01
, 2G001HA01
, 2G001HA13
, 2G001JA09
, 2G001JA11
, 2G001JA13
, 2G001JA16
, 2G001KA03
, 2G001LA01
, 2G001PA11
, 2G001SA04
, 2G001SA14
