IC試験装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：飯塚義仁
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-351905
公開番号（公開出願番号）：特開平9-178813
出願日： 1995年12月27日
公開日（公表日）： 1997年07月11日
要約：

【要約】 (修正有)【課題】フェイルメモリにインターリーブ動作で高速にパス/フェイルデータを書き込んだり読出したりする際のインターリーブ補正時間を短縮し、試験時間のスループットを向上させる。【解決手段】アドレス供給手段によって複数のフェイルメモリ57にインターリーブしない共通のアドレスを供給し、別々に出力した複数のパス/フェイルデータの論理和信号を論理和手段から出力する。そして、アドレス供給手段がアドレスを供給している同じサイクル内で書込み手段によって論理和手段からの論理和信号に基づいて複数のフェイルメモリ57に同時にパス/フェイルデータを書き込むようにした。これによって、分散格納されているパス/フェイルデータを複数のフェイルメモリ57から1回読み出すだけで各フェイルメモリに同じパス/フェイルデータを同時に書き込むことができる。

請求項（抜粋）：

複数のフェイルメモリにインターリーブ動作で書き込まれたパス/フェイルデータをインターリーブ動作で読み出せるように前記複数のフェイルメモリ内のデータを補正するインターリーブ格納データ補正機能を備えたIC試験装置において、インターリーブ動作でパス/フェイルデータの書き込まれた前記複数のフェイルメモリに共通のアドレスを供給するアドレス供給手段と、前記アドレス供給手段による前記アドレスの供給に応じて前記複数のフェイルメモリからそれぞれ出力される複数のパス/フェイルデータの論理和信号を出力する論理和手段と、前記アドレス供給手段が前記複数のフェイルメモリに前記アドレスを供給している間に前記論理和手段からの論理和信号に基づいて前記複数のフェイルメモリに同時にパス/フェイルデータを書き込む書込み手段とを具えたことを特徴とするIC試験装置。

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