特許
J-GLOBAL ID:200903088395906054

マルチビームX線像撮像装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 鈴江 武彦 (外6名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-080563
公開番号(公開出願番号):特開平10-275693
出願日: 1997年03月31日
公開日(公表日): 1998年10月13日
要約:
【要約】【課題】この発明は、SN比の高い3次元X線像を、短時間で撮像可能なマルチビームヘリカルスキャンX線像撮像装置を提供することにある。【解決手段】この発明のX線像撮像装置1は、回転陽極12のターゲットを複数とし、それぞれのターゲット12A、12Bから放射されるX線のエネルギーを実質的に同等とすることにより、複数ビームによる複数の断面画像を同時に撮像できる。また、この発明によれば、電子ビームの軌道半径の平方根の比に等しくなるように、2つのターゲットの角度θ1 、θ2 のsinの比を選択することにより、同時に同一のX線量が得られ、1対のスリット16、22をスキャンに同期させて移動することでマルチビームスキャンを達成できる。
請求項(抜粋):
同心円状に配置された内周側の陽極ターゲットと外周側の陽極ターゲットとにより実質的に等しいX線を提供可能な第1および第2のX線源を含む回転陽極型のマルチビームX線管と、前記各X線源から同時に放射されるX線を第1および第2の検出器で検知して被撮像対象のX線像を得るマルチビームX線像撮像装置において、前記第1および第2の検出器と前記内周側の陽極ターゲットおよび前記外周側の陽極ターゲットとの間に配置され、前記それぞれのX線源から放射されたX線を所定のタイミングで遮断する第1および第2のスリットを有することを特徴とするマルチビームスキャンX線像撮像装置。
IPC (4件):
H05G 1/00 ,  A61B 6/03 320 ,  A61B 6/03 ,  A61B 6/03 321
FI (4件):
H05G 1/00 G ,  A61B 6/03 320 B ,  A61B 6/03 320 F ,  A61B 6/03 321 N

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