特許
J-GLOBAL ID:200903088404871471

周期性欠陥検出装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 猪股 祥晃 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-073555
公開番号(公開出願番号):特開2002-281484
出願日: 2001年03月15日
公開日(公表日): 2002年09月27日
要約:
【要約】【課題】走行する帯状物表面の周期性欠陥を、膨大なハードウェアを要することなく高速かつ正確に検出することのできる周期性欠陥検出装置を提供する。【解決手段】走行する帯状物7の表面画像を撮像する検出ヘッド1と、前記撮像された表面画像を2値画像に変換する2値化回路2と、前記2値画像を記憶する2値画像メモリ3と、前記帯状物の長手方向に前記2値画像の自己相関をとる自己相関回路4と、前記帯状物の幅方向に適当に分割した帯域内の自己相関値を相関長毎に加算する加算回路5と、この加算結果から周期性の欠陥を検知する判定回路6とを備えた構成とする。
請求項(抜粋):
走行する帯状物の表面画像を撮像する検出ヘッドと、前記撮像された表面画像を2値画像に変換する2値化回路と、前記2値画像を記憶する2値画像メモリと、前記帯状物の長手方向に前記2値画像の自己相関をとる自己相関回路と、前記帯状物の幅方向に適当に分割した帯域内の自己相関値を相関長毎に加算する加算回路と、この加算結果から周期性の欠陥を検知する判定回路とを備えたことを特徴とする周期性欠陥検出装置。
IPC (4件):
H04N 7/18 ,  B21C 51/00 ,  G01B 11/30 ,  G01N 21/892
FI (5件):
H04N 7/18 B ,  H04N 7/18 K ,  B21C 51/00 P ,  G01B 11/30 A ,  G01N 21/892 B
Fターム (28件):
2F065AA49 ,  2F065BB01 ,  2F065CC06 ,  2F065DD06 ,  2F065FF01 ,  2F065FF04 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065MM03 ,  2F065PP16 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ04 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ27 ,  2F065UU05 ,  2G051AA37 ,  2G051AB02 ,  2G051CA04 ,  2G051EA11 ,  2G051EA30 ,  2G051EC02 ,  2G051EC06 ,  5C054AA01 ,  5C054CC02 ,  5C054CH01 ,  5C054FC05 ,  5C054HA03 ,  5C054HA05

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