分析装置及び方法

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：伊東忠彦 , 大貫進介 , 伊東忠重
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-568389
公開番号（公開出願番号）：特表2005-517925
出願日： 2003年02月14日
公開日（公表日）： 2005年06月16日
要約：

分子の試料の高分子の構造を調査するための方法、その方法は、25GHzから20THzまでの範囲に複数の周波数を有する放射で試料を照射すること、試料のスペクトルを得るために、前記試料から反射された及び/又は前記試料によって透過させられた放射を検出すること、及び分子間相互作用から発生する結果として生ずるスペクトルにおける構造を識別することを含む。

請求項（抜粋）：

試料のマクロ構造を調査する方法であって、当該方法は、 25GHzから20THzまでの範囲における複数の周波数を有する放射を前記試料に照射すること、前記試料から反射された及び/又は前記試料によって透過させられた放射を検出して、前記試料のスペクトルを得ること、並びに分子間相互作用から発生する結果として生じるスペクトルにおける構造を識別することを含む方法。

IPC (2件)：

G01N21/35 , G01N22/00

FI (4件)：

G01N21/35 Z , G01N22/00 M , G01N22/00 S , G01N22/00 V

Fターム (12件)：

2G059AA03 , 2G059AA05 , 2G059BB04 , 2G059BB08 , 2G059EE01 , 2G059EE12 , 2G059GG01 , 2G059GG08 , 2G059HH01 , 2G059JJ18 , 2G059KK01 , 2G059LL01

引用特許：

審査官引用 (1件)

ロサルタンの多形とロサルタン▲II▼形調製のための方法
公報種別：公表公報出願番号：特願平7-517594 出願人：メルクエンドカンパニーインコーポレーテッド, イー・アイ・デユ・ポン・ドウ・ネモウス・アンド・カンパニー, ザ・デユポン・メルク・フアーマシユーテイカル・カンパニー

引用文献：

審査官引用 (5件)

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