特許
J-GLOBAL ID：200903088524741300
材料の測定方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
若林 邦彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-110578
公開番号（公開出願番号）：特開平10-300649
出願日： 1997年04月28日
公開日（公表日）： 1998年11月13日
要約：
【要約】【課題】 高分子材料等の材料の組成、分子量、構成元素、構成物質、化学構造、モルフォロジー等を計測、分析する材料の測定方法において、容易に材料内部の詳細な状態を確認することができる材料の測定方法を提供する。【解決手段】 材料を一定方向に採取し、その方向に沿ってその方向に対して一定の角度で多数枚薄く切り取り、切り取った多数枚の切片を試料として必要項目を測定することを特徴とする材料の測定方法。
請求項（抜粋）：
材料を一定方向に採取し、その方向に沿ってその方向に対して一定の角度で多数枚薄く切り取り、切り取った多数枚の切片を試料として必要項目を測定することを特徴とする材料の測定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 1/28 G
, G01N 21/01 Z
