特許
J-GLOBAL ID：200903088555661916

多点極微量物質自動分析装置及び分析方法並びに極微量物質自動分析装置及び分析方法

発明者：
篠崎 勉

篠崎 勉 について

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下林 勝

下林 勝 について

, 
佐藤 右一

佐藤 右一 について


出願人/特許権者：
日本電気株式会社

日本電気株式会社 について


代理人 (1件)： 京本 直樹 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-081067
公開番号（公開出願番号）：特開2000-081422
出願日： 1999年03月25日
公開日（公表日）： 2000年03月21日
要約：
【要約】【課題】 極微量成分を短時間に、かつ精度よく自動分析する多点極微量物質自動分析装置及び分析方法並びに極微量物質自動分析装置及び分析方法を提供する。【解決手段】 極微量物質を含有するサンプルを捕集するサンプリング部100、サンプリング部により捕集されたサンプル中の極微量物質を濃縮する機能を有する濃縮部200、濃縮された極微量物質を分析測定する分析部300、及び各部を自動的かつ総合的に制御する制御部400からなる極微量物質自動分析装置において、分析部300中の一系統の分析器61に対し、分析器61に濃縮試薬を提供する濃縮部200の濃縮装置26,27を少なくとも2系統備え、各系統の濃縮装置26,27には、それぞれ独立に多地点P1〜P10より捕集された一系列のサンプル群により、並列複数の多点切換バルブ21〜24により任意のサンプルが供給されるように構成する。
請求項（抜粋）：
極微量物質を含有するサンプルを捕集するサンプリング部、サンプリング部により捕集されたサンプル中の極微量物質を濃縮する機能を有する濃縮部、濃縮された極微量物質を分析測定する分析部、及び各部を自動的かつ総合的に制御する制御部からなる極微量物質自動分析装置において、分析部中の一系統の分析器に対し、分析器に濃縮試薬を提供する濃縮部の濃縮装置を少なくとも2系統備え、各系統の濃縮装置には、それぞれ独立に多地点より捕集された一系列のサンプル群により、並列複数の多点切換バルブにより任意のサンプルが供給されるように構成されていることを特徴とする多点極微量物質自動分析装置。
IPC (4件)：
G01N 30/04 ,  G01N 1/00 101 ,  G01N 1/00 ,  G01N 30/08
FI (4件)：
G01N 30/04 E ,  G01N 1/00 101 S ,  G01N 1/00 101 X ,  G01N 30/08 L
引用特許：
審査官引用 (4件)
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