特許

J-GLOBAL ID：200903088564812994

放射性表面汚染測定装置

発明者： 立石 直樹
出願人/特許権者： アロカ株式会社
代理人 (1件)： 吉田 研二 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-113752
公開番号（公開出願番号）：特開平9-297180
出願日： 1996年05月08日
公開日（公表日）： 1997年11月18日
要約：

【要約】【課題】 測定者の作業負担が小さい放射性表面汚染測定装置を提供する。【解決手段】 プローブユニット10の取手部14には、表示ランプ部18が設けられている。表示ランプ部18は、放射線検出器16からの検出信号、あるいは本体ユニットからケーブル30を介して入力される測定結果信号に応じて発光し、測定中の箇所の表面汚染の程度に関する情報を表示する。このように、プローブユニット10に表示ランプ部18を設けたことにより、測定者は、表示ランプ部18を見ていれば本体ユニットのメータを見なくても、汚染箇所を大まかに特定することができる。従って、測定者は、検出面12aを傷付けないように注意を払いながらも汚染箇所を探すことができる。

請求項（抜粋）：

放射線検出器と把持部とを有するプローブユニットと、信号ケーブルを介して前記プローブユニットに接続され、前記放射線検出器の検出信号に基づき汚染測定値を求める信号処理部を含む本体ユニットと、を有し、測定者が前記プローブユニットの把持部を持ち、前記放射線検出器の検出面を測定対象面に近接させて表面汚染の測定を行う放射性表面汚染測定装置において、前記プローブユニットに、汚染箇所サーチ用の情報の出力を行うサーチ情報出力部を設けたことを特徴とする放射性表面汚染測定装置。