電圧測定装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：長谷川芳樹 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-235162
公開番号（公開出願番号）：特開平8-101232
出願日： 1994年09月29日
公開日（公表日）： 1996年04月16日
要約：

【要約】【目的】短パルス光源および高速オシロスコープを必要としないE-Oプローブを用いた電圧測定装置を提供する。【構成】 CW光源21はE-Oプローブ25へ測定光を出射する。測定光はこのE-Oプローブ25において周波数f0 で繰り返す被測定電気信号の電圧に応じた偏光状態の変化が加えられ、高速光検出器28で検出される。高速光検出器28の出力は交流成分のみが増幅されて周波数ミキサ30に与えられる。また、この周波数ミキサ30には、変調出力駆動装置29からnf0 +△fの変調出力が与えられている。従って、周波数ミキサ30からはこれら2つの信号の和と差の周波数成分を持つ信号が出力されるが、高周波カットフィルタ33によって差周波数信号成分のみがビート信号として狭帯域計測装置34へ出力される。

請求項（抜粋）：

被測定物を駆動する駆動手段と、被測定物に生じる電界が印加されると屈折率が変化する電気光学材料からなるE-Oプローブとを備えて構成された電圧測定装置において、前記E-Oプローブに連続光を測定光として出射する連続光源と、前記駆動手段が被測定物へ出力する駆動信号の繰り返し周波数に基づいて変調周波数信号を生成する変調出力駆動手段と、この変調出力駆動手段の出力する前記変調周波数信号と前記E-Oプローブで印加電界に応じた変化が与えられた前記測定光とを用いてヘテロダイン計測を行う計測手段とを備えたことを特徴とする電圧測定装置。

IPC (3件)：

G01R 15/24 , G01R 19/00 , G01R 31/302

FI (2件)：

G01R 15/07 C , G01R 31/28 L

引用特許：

出願人引用 (4件)

特開平3-170876
特開平3-259753
特開平4-307379

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