特許
J-GLOBAL ID：200903088577970165
回路基板の検査方法および装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
斉藤 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-309621
公開番号（公開出願番号）：特開平6-213966
出願日： 1993年11月05日
公開日（公表日）： 1994年08月05日
要約：
【要約】【目的】 裸の回路基板の検査方法と装置を提供する。【構成】 本発明は回路基板の両側の回路網の点に接触し、充電回路網の放電時間を測定する、それぞれXY面を動くことのできる複数のプローブを使用することからなる。また本発明は、複数のプローブのうちのいずれに対しても端子点を与えるため、導電基準面への共通のコネクターも使う。各プローブは2つの目的をもっており、その1つは各回路網の放電検査をすることであり、もう1つは他のプローブと共にある回路網の抵抗値を測定することである。
請求項（抜粋）：
回路網に接触するための少なくとも2つの可動プローブ、該プローブを通して導電基準に関し所定電圧まで回路網を充電するための電源を含む部材、プローブと接触している回路網の充電電圧を放電するための放電回路、高スレッショールドと低スレッショールドの間の基準に関し、充電回路網の放電時間を測定するための部材、および該放電時間を記録するための部材からなることを特徴とする裸の回路基板上の回路網の完全性を測定するための装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01R 31/28 H
, G01R 31/28 P
