特許

J-GLOBAL ID：200903088603978137

米粒検査装置

発明者： 藤原 憲明 ,  格内 敏
出願人/特許権者： 松下電工株式会社
代理人 (1件)： 佐藤 成示 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-011013
公開番号（公開出願番号）：特開平9-203709
出願日： 1996年01月25日
公開日（公表日）： 1997年08月05日
要約：

【要約】【課題】 作業者の負担を軽減し、検査基準を一定にして正常品の米粒の品質を一定とすることのできる米粒検査装置を提供する。【解決手段】 本発明の米粒検査装置は。米粒を載置する米粒載置板4と、米粒載置板の一面に対向する第一の撮像部2と、米載置板の他の面に対向する第二の撮像部3と、米粒載置板の一面に対向する照明装置5と、第一の撮像部の撮像映像と第二の撮像部の撮像映像とから米粒載置板上の米粒の品質を算出する制御部1とを有する。そして、照明装置が米粒載置板に載置された米粒を照射し、第一の撮像部は米粒の反射光を撮像し、第二の撮像部は米粒の透過光を撮像し、制御部が第一の撮像部の撮像映像と第二の撮像部の撮像映像とから米粒載置板上の米粒の品質を算出する。

請求項（抜粋）：

米粒を載置する米粒載置板と、米粒載置板の一面に対向する第一の撮像部と、米載置板の他の面に対向する第二の撮像部と、米粒載置板の一面に対向する照明装置と、第一の撮像部の撮像映像と第二の撮像部の撮像映像とから米粒載置板上の米粒の品質を算出する制御部とを有することを特徴とする米粒検査装置。