特許
J-GLOBAL ID：200903088621883186
乱丁検出方法
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高矢 諭 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-345486
公開番号（公開出願番号）：特開2000-168262
出願日： 1998年12月04日
公開日（公表日）： 2000年06月20日
要約：
【要約】【課題】 検査画像を取り込んだ印刷物と基準画像を取り込んだ印刷物との間で印刷濃度や用紙の色が異なっている場合でも、確実に乱丁を検出する。【解決手段】 予め正常な印刷物から画像入力した基準画像Aと、丁合工程で印刷物から画像入力した検査画像Eとに基づいて乱丁を検出する際、基準画像Aからエッジを抽出した基準エッジ画像Bを作成し、検査画像Eからエッジを抽出した検査エッジ画像Gを作成し、これら基準エッジ画像と検査エッジ画像とを比較して乱丁発生を検出する。具体的には基準エッジ画像Bから膨張画像Cと収縮画像Dを作成し、検査エッジ画像Gを基準エッジ膨脹画像Cによりマスク処理し、基準エッジ収縮画像Dを検査エッジ画像Gによりマスク処理する。
請求項（抜粋）：
予め正常な印刷物から画像入力した多値の基準画像と、丁合工程で印刷物から画像入力した多値の検査画像とに基づいて乱丁を検出する乱丁検出方法において、以下の全ての画像処理を多値データのまま行なうこととし、前記基準画像からエッジを抽出した基準エッジ画像を作成すると共に、前記検査画像からエッジを抽出した検査エッジ画像を作成し、前記基準エッジ画像を膨脹処理して基準エッジ膨脹画像を、該エッジ画像を収縮処理して基準エッジ収縮画像をそれぞれ作成し、前記検査エッジ画像を基準エッジ膨脹画像によりマスク処理し、基準エッジ収縮画像を前記検査エッジ画像によりマスク処理することにより、これら基準エッジ画像と検査エッジ画像とを比較して乱丁を検出することを特徴とする乱丁検出方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
B42C 1/00 Z
, G01N 21/88 J
2G051AA90
, 2G051AB11
, 2G051AB20
, 2G051EA08
, 2G051EA11
, 2G051EA12
, 2G051EA14
, 2G051EB01
, 2G051EB09
, 2G051ED01
, 2G051ED08
, 2G051ED14
, 2G051ED15
