特許
J-GLOBAL ID：200903088693855519
光学式センサ
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-318616
公開番号（公開出願番号）：特開平8-178618
出願日： 1994年12月21日
公開日（公表日）： 1996年07月12日
要約：
【要約】【目的】受光素子の断線または出力低下、受光素子の断線や劣化、汚れ、また、電流フィードバック回路の短絡等の異常が発生した場合に、異常の発生及び異常の原因及び箇所を検出できる光学式センサを提供する。【構成】発光素子と、発光素子からの光を受光する受光素子と、受光素子の出力信号レベルが常に一定レベルとなるように発光素子への駆動電流を制御するフィードバック手段を備えた光学式センサにおいて、受光素子の出力信号レベルと基準信号レベルとを比較する比較手段からなり、比較手段の比較結果を異常検出結果として出力する異常検出手段を備える。
請求項（抜粋）：
発光素子と、該発光素子からの光を受光する受光素子と、該受光素子の出力信号レベルが常に一定レベルとなるように前記発光素子への駆動電流を制御するフィードバック手段を備えた光学式センサにおいて、前記受光素子の出力信号レベルと基準信号レベルとを比較する比較手段からなり、該比較手段の比較結果を異常検出結果として出力する異常検出手段を備えたことを特徴とする光学式センサ。
IPC (3件)：
G01B 11/00
, G01J 1/00
, G01V 8/10
