特許
J-GLOBAL ID：200903088742963225
超音波診断装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人池内・佐藤アンドパートナーズ
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-331162
公開番号（公開出願番号）：特開2009-148499
出願日： 2007年12月21日
公開日（公表日）： 2009年07月09日
要約：
【課題】 得られた超音波画像から、エコーパターン分類を自動的に行うことができる超音波診断装置を提供すること。 【解決手段】 操作部と、表示モニタと、前記表示モニタに表示する画像を処理する表示処理部と、超音波画像を取得する超音波画像取得部と、前記超音波画像から二次元の断層画像を得る断層画像取得部と、前記断層画像を構成する各ピクセルにおける輝度値を取得する輝度値取得部と、取得した前記輝度値からピクセル情報を取得する二値化部と、所定面積あたりの高輝度ピクセルの分布密度を測定する分布密度測定部と、前記分布密度を所定の閾値に基づいて分類した分布密度情報を取得する分布密度分類部と、前記ピクセル情報と前記分布密度情報から境界部を規定する境界判定部と、前記断層画像をエコーパターンに分類するエコーパターン分類部とを有する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
操作部と、
表示モニタと、
前記表示モニタに表示する画像を処理する表示処理部と、
超音波画像を取得する超音波画像取得部と、
前記超音波画像から二次元の断層画像を得る断層画像取得部と、
前記断層画像を構成する各ピクセルにおける輝度値を取得する輝度値取得部と、
取得した前記輝度値を所定の閾値に基づいて二値化して、前記ピクセルを高輝度ピクセルと低輝度ピクセルの2つに分類したピクセル情報を取得する二値化部と、
所定面積あたりの前記高輝度ピクセルの分布密度を測定する分布密度測定部と、
前記分布密度を所定の閾値に基づいて低密度部と高密度部とに分類した分布密度情報を取得する分布密度分類部と、
前記ピクセル情報と前記分布密度情報から境界部を規定する境界判定部と、
前記境界部の形状と、前記ピクセル情報と、前記分布密度情報とに基づいて、前記断層画像をエコーパターンに分類するエコーパターン分類部とを有することを特徴とする超音波診断装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (3件)：
4C601BB03
, 4C601JC07
, 4C601JC12
