特許
J-GLOBAL ID:200903088844763620

自動分析装置における基準試料の状態監視方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 杉村 暁秀 (外8名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-072210
公開番号(公開出願番号):特開平11-271310
出願日: 1998年03月20日
公開日(公表日): 1999年10月08日
要約:
【要約】【課題】 基準試料の状態を簡単かつ確実に監視でき、分析結果の信頼性を向上できる自動分析装置における基準試料の状態監視方法を提供する。【解決手段】 反応容器内にサンプルおよび試薬を分注して反応させ、その反応液の吸光度を測光部で測定して所望の測定項目を自動的に分析すると共に、その分析結果の正確さを担保するために、基準試料セット部にセットされた標準試料や精度管理用試料の基準試料を前記反応容器内に適宜分注して分析するようにした自動分析装置における前記基準試料の状態を監視するにあたり、前記基準試料のセットに同期して、前記反応容器内に当該基準試料を分注してその初期吸光度を前記測光部で測定し、前記基準試料を実際に分析する際に、前記反応容器に分注される当該基準試料の吸光度を前記測光部で測定し、この実際の分析の際の吸光度と前記基準吸光度とを比較して、前記基準試料の状態変化を監視する。
請求項(抜粋):
反応容器内にサンプルおよび試薬を分注して反応させ、その反応液の吸光度を測光部で測定して所望の測定項目を自動的に分析すると共に、その分析結果の正確さを担保するために、基準試料セット部にセットされた標準試料や精度管理用試料の基準試料を前記反応容器内に適宜分注して分析するようにした自動分析装置における前記基準試料の状態を監視するにあたり、前記基準試料のセットに同期して、前記反応容器内に当該基準試料を分注してその初期吸光度を前記測光部で測定し、前記基準試料を実際に分析する際に、前記反応容器に分注される当該基準試料の吸光度を前記測光部で測定し、この実際の分析の際の吸光度と前記基準吸光度とを比較して、前記基準試料の状態変化を監視することを特徴とする自動分析装置における基準試料の状態監視方法。
引用特許:
審査官引用 (7件)
  • 特開昭57-108639
  • 特開昭61-218949
  • 自動化学分析装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平6-173742   出願人:株式会社島津製作所
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