特許
J-GLOBAL ID:200903088925677396
多重ガンマ線検出法と放射化分析を組み合わせた新微量分析法において検出器の不感時間を補正する方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (6件):
社本 一夫
, 増井 忠弐
, 小林 泰
, 千葉 昭男
, 富田 博行
, 桜井 周矩
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-290784
公開番号(公開出願番号):特開2004-125639
出願日: 2002年10月03日
公開日(公表日): 2004年04月22日
要約:
【課題】従来、多重ガンマ線分析法においては、その特性上、測定装置が実際に作動していた時間を正確に知ることは非常に困難であり、これが原因で測定精度に誤差が生じていた。【解決手段】本発明は、多重ガンマ線を出す線源を試料と同時に測定することによりこれらの検出器の不感時間を補正し、検出精度を向上させるものである。多重ガンマ線分析法において強度がわかっておりかつ多重ガンマ線を出す線源を一緒に測定する。線源からの多重ガンマ線は、試料からの多重ガンマ線と同じく検出器の不感時間の間は測定されない。つまり、線源からの多重ガンマ線のカウント数は検出器が動作していた時間に比例しており、これを用いて不感時間の補正を行う。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
多重ガンマ線検出法と放射化分析を組み合わせた新微量分析方法において、同時計数イベントの測定や同時計数しなかったガンマ線の測定等の際に発生する検出器の不感時間を多重ガンマ線を出す線源を試料と同時に測定することにより検出器の不感時間を補正する方法。
IPC (2件):
FI (2件):
Fターム (16件):
2G001AA04
, 2G001BA01
, 2G001CA02
, 2G001FA02
, 2G001FA10
, 2G001FA30
, 2G001KA01
, 2G001LA01
, 2G001NA09
, 2G001NA11
, 2G001NA17
, 2G088EE29
, 2G088FF04
, 2G088LL15
, 2G088LL26
, 2G088LL28
引用文献: