特許

J-GLOBAL ID：200903088933594386

回路検証方法および装置

発明者： 寺島 信
出願人/特許権者： ソニー株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-229352
公開番号（公開出願番号）：特開2002-041596
出願日： 2000年07月28日
公開日（公表日）： 2002年02月08日
要約：

【要約】【課題】 テストベクトルの数を抑えて検証に要する時間を短縮する。【解決手段】 テストベクトル生成・追加手段112が新たなテストベクトルを生成してテストベクトルバッファ106に追加するごとに、テストベクトル得点計算手段114は、テストベクトルの性能を表す得点を計算する。得点上昇分判定手段4は、この得点と、テストベクトル追加前の得点とを比較して、得点が十分に上昇しなかった場合は、上記追加されたテストベクトルをテストベクトルバッファ106から削除すべく追加テストベクトル破棄手段6を起動する。したがって、検証を行う上で効果的なテストベクトルのみが採用され、テストベクトルの総数を削減できる。

請求項（抜粋）：

テストベクトルを回路または回路モデルに与えて回路または回路モデルの動作を検証する方法であって、検証対象の回路を表現する参照モデルを表すデータをモデルデータ記憶手段に保持させるデータ格納ステップと、所定数の前記テストベクトルを生成しテストベクトル記憶手段に追加して格納するテストベクトル生成・追加ステップと、前記テストベクトル記憶手段が保持している前記テストベクトル、および前記モデルデータ記憶手段が保持している前記参照モデルのデータを用いて前記テストベクトルの性能を表す得点を算出するテストベクトル得点計算ステップと、前記テストベクトル生成・追加ステップで前記テストベクトルを新たに生成して前記テストベクトル記憶手段に追加格納する前に前記テストベクトル得点計算ステップで算出した前記テストベクトルの第1の得点から、前記テストベクトル生成・追加ステップで前記テストベクトルを新たに生成して前記テストベクトル記憶手段に追加格納した後に前記テストベクトル得点計算ステップで算出した前記テストベクトルの第2の得点までの得点の上昇分が設定値より大きいか否かを判定する得点上昇分判定ステップと、前記得点上昇分判定ステップにおける判定結果が否の場合、前記テストベクトル記憶手段から、前記テストベクトル生成・追加ステップで最後に追加した前記所定数のテストベクトルを削除する追加テストベクトル破棄ステップと、前記得点上昇分判定ステップにおける判定結果が否の場合、前記テストベクトル生成・追加ステップで新たなテストベクトルの生成、追加を行うべく制御するテストベクトル生成制御ステップと、前記得点上昇分判定ステップにおける判定結果が正の場合、前記第2の得点が設定値より大きいか否かを判定し、判定結果が否のとき前記テストベクトル生成・追加ステップで新たな前記テストベクトルの生成、追加を行うべく制御するテストベクトル得点判定ステップと、前記テストベクトル得点判定ステップにおける判定結果が正のとき、前記テストベクトル記憶手段が保持している前記テストベクトルを用いて、検証対象回路を検証するかまたは与えられた検証対象モデルのデータにより前記検証対象モデルを検証する検証ステップとを含むことを特徴とする回路検証方法。

IPC (4件)：

G06F 17/50 670 ,  G06F 17/50 672 ,  G01R 31/28 ,  G06F 11/22 310

FI (4件)：

G06F 17/50 670 G ,  G06F 17/50 672 F ,  G06F 11/22 310 B ,  G01R 31/28 F

Fターム (10件)：

2G032AA01 ,  2G032AC08 ,  2G032AL00 ,  5B046AA08 ,  5B046BA03 ,  5B046BA09 ,  5B046JA01 ,  5B046JA05 ,  5B048AA20 ,  5B048DD05