特許
J-GLOBAL ID：200903088945344369
複合体の耐屈曲寿命予測方法及び複合体の耐屈曲性評価方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
河野 登夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-023100
公開番号（公開出願番号）：特開平8-166333
出願日： 1995年02月10日
公開日（公表日）： 1996年06月25日
要約：
【要約】【目的】 導体を絶縁体で被覆した電線,フラットケーブル等の複合体の耐屈曲寿命を容易に予測すると共に、複数種の複合体の耐屈曲性の相対評価を得る。【構成】 耐屈曲性評価試験装置に装着した複合体の導体部の最大歪み量と耐屈曲寿命との関係(または屈曲形状の理想半円からのずれ量と耐屈曲寿命との関係)を示すマスターグラフを予め作成しておき、耐屈曲性評価試験装置に装着した予測対象の複合体の導体部の最大歪み量(または屈曲形状の理想半円からのずれ量)を求め、求めた最大歪み量(または屈曲形状の理想半円からのずれ量)を作成しておいたマスターグラフに照合してこの複合体の耐屈曲寿命を予測する。また、複数種の複合体を耐屈曲性評価試験装置にそれぞれ装着した際の導体部の最大歪み量(または屈曲形状の理想半円からのずれ量)を比較することにより、これらの複合体の耐屈曲性を相対的に評価する。
請求項（抜粋）：
導体部を絶縁部で被覆してなる複合体について、耐屈曲性評価試験装置を用いて、その導体部の抵抗値が所定値に到達したときの屈曲回数で定義される耐屈曲寿命を予測する方法において、複合体を耐屈曲性評価試験装置に装着した際の導体部の最大歪み量及び/または屈曲形状の理想半円からのずれ量と実測した耐屈曲寿命との関係を予め求めておき、耐屈曲性評価試験装置に予測対象の複合体を装着した際の導体部の最大歪み量及び/または屈曲形状の理想半円からのずれ量を求めておいた関係に照合して複合体の耐屈曲寿命を予測することを特徴とする複合体の耐屈曲寿命予測方法。
IPC (3件)：
G01N 3/32
, G01N 3/34
, H01B 13/00
