特許

J-GLOBAL ID：200903088948252287

赤外線吸収強化分光装置

発明者： 渡邉 敦夫
出願人/特許権者： 渡邉 敦夫
代理人 (1件)： 山口 和
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-182097
公開番号（公開出願番号）：特開平7-012716
出願日： 1993年06月29日
公開日（公表日）： 1995年01月17日
要約：

【要約】【目的】 赤外線吸収スペクトル分析において赤外分光感度を向上させた赤外線吸収強化分光装置の提供。【構成】高屈折率プリズムに、入射させ全反射して出射してくる赤外線の吸光度特性により分析する装置において、プリズムの全反射面に金属の微粒子を含む誘電体膜を形成し、その表面とフィルム31に蒸着した金属面32の間に試料を配置し、圧着機構により、両面を密着させることにより、金の微粒子を含む誘電体膜の表面と金属蒸着面の間に生ずる赤外線の電界強度を強め、試料による赤外線の吸収を増大させる。

請求項（抜粋）：

入射面と反射面と出射面をもつ高屈折率プリズムの前記反射面と、プラスチックフィルムに金属を蒸着して成る金属蒸着面との間に設けた間隙に分析対象の試料を薄層として配置し、前記プリズムの入射面から赤外光を入射し、反射面で全反射して出射面から抜けさせて得られる赤外光の吸光スペクトルにより試料の分析を行う赤外線吸収強化分光装置において、前記高屈折率プリズムの前記反射面の外面に、平均粒径0.1 μm以下の金属の微粒子を含む誘電体の薄膜を形成させ、金属の微粒子を含む誘電体の薄膜の表面と前記プラスチックフィルムの金属蒸着面との間隙に試料を薄膜として配置することを特徴とする赤外線吸収強化分光装置。

IPC (2件)：

G01N 21/27 ,  G01J 3/42

引用特許：

審査官引用 (5件)

• 特開平3-261846
  
• 特開昭62-220834
  
• 特開平4-348254
  
• 特開平1-321338
  
• 特開昭62-225904