特許

J-GLOBAL ID：200903088984867557

イオンをイオン源からイオン・トラップ質量分析器へ移送する装置及び方法

発明者： ジェイ シー シュウォーツ ,  ジョン エドワード フィリップ サイカ
出願人/特許権者： フィニガン コーポレイション
代理人 (1件)： 中村 稔 (外9名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-270884
公開番号（公開出願番号）：特開2000-106128
出願日： 1999年09月24日
公開日（公表日）： 2000年04月11日
要約：

【要約】【課題】移送されたイオンを解析する時にランダム・ノイズを低減したイオンを大気圧イオン源からイオン・トラップ質量分析器へ移送する移送装置および大気圧イオン化源に接続されたイオン・トラップ分析器の荷電粒子、荷電小滴、イオンに起因する雑音を減少する方法を提供する。【解決手段】移送されたイオンがイオン・トラップ質量分析器で解析されている間、対向する複数のイオン・ガイド・ロッド間にDC電圧を加えて、横断方向の双極偏向電界を生じさせて雑音粒子を偏向させてイオン・トラップ質量分析器に進入するのを阻止する。

請求項（抜粋）：

イオンをイオン化源からイオン・トラップ質量分析器に移送するイオン移送装置において、イオンを前記イオン・トラップ質量分析器に移送する複数のロッドのイオン・ガイドと、前記ロッドの交互に反対位相のRF電圧を加えて、イオンを解析のためにイオン・トラップへ案内する手段と、対向する前記ロッド間にDC双極電圧を加えて、移送されたイオンが前記イオン・トラップ質量分析器で解析されている間、横断方向の双極偏向電界を生じさせる手段と、を有するイオン移送装置。

IPC (3件)：

H01J 49/42 ,  H01J 49/06 ,  G01N 27/62

FI (3件)：

H01J 49/42 ,  H01J 49/06 ,  G01N 27/62 K