特許
J-GLOBAL ID：200903089019301164
測距装置および光学機器
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
岸田 正行 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-017141
公開番号（公開出願番号）：特開平11-211468
出願日： 1998年01月29日
公開日（公表日）： 1999年08月06日
要約：
【要約】【課題】 パッシブ測距方式とアクティブ測距方式とが切り換わっても、十分な測距精度の保証が可能で、演算時間に無駄のない測距装置を提供する。【解決手段】 パッシブ測距方式とアクティブ測距方式とを切換可能とし、一対の受光手段からの受光像のうち少なくとも一方の画像情報をシフトし、一対の画像情報の相関量の変移から一対の画像情報の位相差を検出する相関演算手段を有し、前記相関演算手段により前記アクティブ測距方式と、前記パッシブ測距方式による測距情報を出力する測距装置において、前記相関演算手段の相関量を求めるための画像情報のシフト領域を、前記第アクティブ測距方式と前記パッシブ測距方式で個々に設定可能とした(ステップ209〜212)。
請求項（抜粋）：
測距対象物に投光する投光手段と、上記測距対象物からの反射光を受光し受光量に応じた信号をそれぞれ出力する一対の受光手段と、この一対の受光手段からの受光像のうち少なくとも一方の画像情報をシフトし、一対の画像情報の相関量の変移から一対の画像情報の位相差を検出する相関演算手段を有し、前記投光を行う第1の測距方式と、前記投光を行わない第2の測距方式とを切換可能とし、前記相関演算手段により第1の測距方式による測距情報と前記第2の測距方式による測距情報を出力する測距装置において、前記相関演算手段の相関量を求めるための画像情報のシフト領域は、前記第1の測距方式と、前記第2の測距方式で個々に設定が可能である事を特徴とする測距装置。
IPC (3件)：
G01C 3/06
, G02B 7/32
, G02B 7/34
G01C 3/06 V
, G02B 7/11 B
, G02B 7/11 C
