特許
J-GLOBAL ID:200903089068442768

露光された写真材料の電子処理方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 伊東 忠彦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-063594
公開番号(公開出願番号):特開2001-337427
出願日: 2001年03月07日
公開日(公表日): 2001年12月07日
要約:
【要約】【課題】 本発明は、ハロゲン銀写真材料中の潜像を検出及び測定する改善された技法を提供することを目的とする。【解決手段】 写真要素から潜像を電子的に処理する方法は、パルス化放射線とギャップを含むサンプルコンデンサを有する無線周波数の光伝導性装置とを使用し、サンプルコンデンサに隣接する電磁場に写真要素を配置する段階と、コンデンサを通して写真要素を進める進め機構を設ける段階と、パルス化合焦されたビームの放射線を用いてサンプルコンデンサ中のギャップを通じて写真要素を走査する段階と、写真要素の光電子応答を直接的に測定し、無線周波数の光伝導性装置からの結果として生じられる信号を記録する段階と、写真要素を進め、周辺温度又はそれ以下の温度で写真要素上の潜像の二次元の読み出しを提供するために露光段階及び測定段階を繰り返す段階とを有する。
請求項(抜粋):
パルス化放射線とギャップを含むサンプルコンデンサを有する無線周波数の光伝導性装置とを使用し、写真要素から潜像を電子的に処理する方法であって、a)上記サンプルコンデンサに隣接する電磁場に上記写真要素を配置する段階と、b)上記コンデンサを通して上記写真要素を進める進め機構を設ける段階と、c)パルス化合焦されたビームの放射線を用いて上記サンプルコンデンサ中の上記ギャップを通じて上記写真要素を走査する段階と、d)上記写真要素の光電子応答を直接的に測定し、上記無線周波数の光伝導性装置からの結果として生じられる信号を記録する段階と、e)上記写真要素を進め、上記走査段階c)及び測定段階d)を繰り返す段階とを有する方法。
IPC (3件):
G03C 5/00 ,  H04N 1/00 ,  H04N 1/04
FI (4件):
G03C 5/00 ,  H04N 1/00 G ,  H04N 1/04 E ,  H04N 1/12 Z

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