特許
J-GLOBAL ID:200903089075072208
位相コントラスト画像生成方法および装置並びにプログラム
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
柳田 征史 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-146130
公開番号(公開出願番号):特開2002-336230
出願日: 2001年05月16日
公開日(公表日): 2002年11月26日
要約:
【要約】【課題】 位相コントラスト撮影方法により得られた複数の放射線画像について、位相差が2πを越えても正確な位相差を反映させた位相コントラスト画像を得る。【解決手段】 検出パネル31を移動させつつ、被写体21を透過した長波長のX線12Lを検出パネル31に照射し、複数の撮影位置において被写体のX線画像を表す画像データSLnを得る。同様に短波長のX線12Sを用いて画像データSSnを得る。各画像データSLn,SSnに基づいて、長短両波長のX線12L、12Sにおける被写体21を透過することにより生じる位相差を位相差算出手段41において算出し、各位相差に基づいて長波長X線12Lの位相差を補正して真の位相差を取得し、これに基づいて、位相コントラスト画像を表す画像データS1を得る。
請求項(抜粋):
被写体に長波長放射線および短波長放射線を照射し、前記被写体を透過した長波長放射線および短波長放射線を、前記被写体からの距離が異なる複数位置において検出して、該各位置における長波長放射線による複数の長波長放射線画像および短波長放射線による複数の短波長放射線画像を取得し、前記複数の長波長放射線画像および前記複数の短波長放射線画像に基づいて、前記被写体を透過することにより生じる前記長波長放射線および前記短波長放射線の位相差をそれぞれ算出し、前記長波長位相差および前記短波長位相差に基づいて、前記長波長位相差を補正して補正長波長位相差を取得し、該補正長波長位相差に基づいて位相コントラスト画像を生成することを特徴とする位相コントラスト画像生成方法。
IPC (4件):
A61B 6/00 330
, A61B 6/00 333
, G01N 23/04
, G06T 1/00 290
FI (4件):
A61B 6/00 330 Z
, A61B 6/00 333
, G01N 23/04
, G06T 1/00 290 A
Fターム (35件):
2G001AA01
, 2G001AA20
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001GA01
, 2G001GA06
, 2G001GA19
, 2G001HA07
, 2G001HA09
, 2G001HA13
, 2G001HA20
, 2G001KA01
, 4C093AA30
, 4C093CA04
, 4C093DA06
, 4C093EA04
, 4C093EA07
, 4C093EB17
, 4C093EC29
, 4C093FD20
, 4C093FF50
, 5B057AA07
, 5B057BA03
, 5B057CA02
, 5B057CA08
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057CB02
, 5B057CB08
, 5B057CB12
, 5B057CB16
, 5B057CC01
, 5B057CD14
, 5B057CE11
, 5B057CH08
前のページに戻る