特許
J-GLOBAL ID:200903089075762590

少なくとも一つの対象物体点における立体座標の測定のため方法およびシステム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 松田 省躬
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-138744
公開番号(公開出願番号):特開2000-337815
出願日: 2000年05月11日
公開日(公表日): 2000年12月08日
要約:
【要約】【課題】同平面にはない二つの基点の座標から、ビデオスタジア測量器を用いて少なくとも一つの物体点P1の立体座標を測定するための方法およびシステム【解決手段】参照点として用いる二つの基点の座標から、距離測定装置、CCDマトリックス付属ビデオカメラ、視準装置および角度測定装置を擁し、垂直な鉛直軸StAの周りを旋回する撮影地点に配置のビデオスタジア測量器を用いて、反射器、レーザー斑あるいはその他の方法でマーキングし、測定した地形内の基点から任意の物体点の座標を導き出す
請求項(抜粋):
基点B1,B2を地表にマーキングして、目標方向に視準し、距離測定システムおよび角度測定装置によりそれらの座標を測定すること- 補足としてマーキングされた基点B1,B2および物体点Piを含む視準画像M'1M'2をビデオカメラによりそれぞれ撮影して保存すること- 次に、物体点Piの座標を視準画像M'1、M'2の座標およびマーキングされ、スタジア測量された基点B1、B2から求めることを特徴とする、距離測定システムのほかに水平軸の周りを傾倒できるCCDマトリックス付ビデオカメラ、それに視準装置および角度計測装置を持ち、垂直軸StAの周りを旋回できるという、撮影位置に配置されたビデオスタジア測量器を用いて、同一平面にない参照点としての少なくとも二つの基点の座標から少なくとも一つの物体点Piの立体座標を測定する方法
IPC (3件):
G01B 11/00 ,  G01B 11/26 ,  G01C 15/00
FI (3件):
G01B 11/00 B ,  G01B 11/26 Z ,  G01C 15/00 A
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 特開平3-057911
  • 特開平3-057911

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