特許
J-GLOBAL ID:200903089084697288
浮遊粒子状物質測定装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
西岡 義明
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-355201
公開番号(公開出願番号):特開2002-156321
出願日: 2000年11月22日
公開日(公表日): 2002年05月31日
要約:
【要約】【課題】空試験とその確認が容易で、その結果に基づき自動ゼロ校正が行える浮遊粒子状物質測定装置を提供する。【解決手段】オンオフバルブ10、流量調節バルブ11及びゼロガス供給源5からなるゼロガス供給機構を、一時的あるいは恒久的に付設または内蔵し、任意の時間ゼロガスを吸入して、演算制御部6のROM63に記憶した演算制御プログラムに基づいてゼロガス入力での測定を行い、この測定時間中の任意の範囲における測定値の平均値を算出し、この平均値あるいは所定の基準値と比較した合否判定結果を出力装置8で表示すると共に、判定結果により自動的にゼロ校正を行う。
請求項(抜粋):
浮遊粒子状物質を含まない空気をゼロガスとして供給するゼロガス供給機構を、一時的あるいは恒久的に付設または内蔵することができる浮遊粒子状物質測定装置において、任意の時間、ゼロガス入力での測定を行い、この測定時間中の任意の範囲における測定値の平均値を算出する平均値算出手段と、該平均値あるいは所定の基準値と比較した合否判定結果の少なくともいずれか一方を含んだ情報を、画面への画像表示、プリンタや記録計への印字表示、アナログ信号出力、デジタル信号出力、記録媒体への記録の一つ又は複数とする外部伝達手段を備えたことを特徴とする浮遊粒子状物質測定装置。
IPC (4件):
G01N 5/02
, G01N 15/00
, G01N 15/06
, G01N 1/00
FI (4件):
G01N 5/02 A
, G01N 15/00 C
, G01N 15/06 D
, G01N 1/00 C
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