特許
J-GLOBAL ID:200903089105928870

PINダイオードを含む複合半導体装置、この装置の製造方法及びこの装置を用いた高周波装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 山本 秀策
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-147119
公開番号(公開出願番号):特開2001-068557
出願日: 2000年05月18日
公開日(公表日): 2001年03月16日
要約:
【要約】【課題】 PINダイオードと異なる種類の他の能動素子を半導体基板上に集積化したPINダイオードを含む複合半導体装置を提供する。【解決手段】 半絶縁性GaAs基板11上にn型半導体領域12とp型半導体領域13を設け、n型半導体領域12上にn型オーミック電極14を設け、p型半導体領域13上にp型オーミック電極15を設けている。n型半導体領域12とp型半導体領域13を相互に1μm離間させて配置しており、これによりPINダイオード16のp層-i層-n層という構造が形成される。また、半絶縁性GaAs基板11上にFET10を設けている。
請求項(抜粋):
高抵抗半導体基板と、該高抵抗半導体基板上に形成され、n型半導体領域及びp型半導体領域を含むPINダイオードと、該高抵抗半導体基板上に形成され、該PINダイオードとは異なる種類の能動素子とを備え、該n型半導体領域及び該p型半導体領域の少なくとも一方は、イオン注入されたものであるPINダイオードを含む複合半導体装置。
IPC (12件):
H01L 21/8222 ,  H01L 27/06 ,  H01L 27/04 ,  H01L 21/822 ,  H01L 21/06 ,  H01L 21/8232 ,  H01L 21/331 ,  H01L 29/73 ,  H01L 27/095 ,  H01L 29/861 ,  H01L 21/329 ,  H01P 1/15
FI (8件):
H01L 27/06 101 D ,  H01P 1/15 ,  H01L 27/04 A ,  H01L 27/06 F ,  H01L 29/72 ,  H01L 29/80 E ,  H01L 29/91 F ,  H01L 29/91 A

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