特許

J-GLOBAL ID：200903089108124799

容器の検査装置

発明者： 中村 博典 ,  林 宏章 ,  高橋 芳彦 ,  鈴木 寿
出願人/特許権者： 株式会社ミツトヨ ,  東洋ガラス株式会社
代理人 (1件)： 木下 實三 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-130228
公開番号（公開出願番号）：特開平11-325878
出願日： 1998年05月13日
公開日（公表日）： 1999年11月26日
要約：

【要約】【課題】 容器の口部天面傾斜、全長、底部窪み量を同時に測定でき、これにより測定時間の大幅な短縮が可能な容器の検査装置を提供する。【解決手段】 基準プレート32の上方に設けられ検査対象容器1の口部天面傾斜および全長を測定する測定器71と、基準プレート32の下方に設けられ検査対象容器1の底部窪み量を測定するプッシュアップ量検出器91とを備える。測定器71は、昇降可能に設けられ検査対象容器の口部天面に当接したとき口部天面にならって傾斜可能な当接プレート74と、この当接プレートの傾きを検出する傾き検出手段75と、当接プレートの昇降位置を検出する昇降位置検出手段とを含む。検出器91は、スタイラス94Aと、このスタイラスの基準プレート上面からの突出量を検出する突出量検出手段98とを含む。

請求項（抜粋）：

検査対象容器の口部天面傾斜、全長および底部窪み量を測定する容器の検査装置であって、検査対象容器を口部を上方にして載置する基準プレートと、前記基準プレートの上方に設けられ検査対象容器の口部天面傾斜および全長を測定する第1測定手段と、前記基準プレートの下方に設けられ検査対象容器の底部窪み量を測定する第2測定手段とを備え、前記第1測定手段は、前記基準プレートの上方に昇降可能に設けられかつ検査対象容器の口部天面に当接したとき口部天面にならって傾斜可能な当接プレートと、この当接プレートの傾きを検出する傾き検出手段と、前記当接プレートの昇降位置を検出する昇降位置検出手段とを含み、前記第2測定手段は、前記基準プレートの上面に対して出没可能に設けられたスタイラスと、このスタイラスの基準プレート上面からの突出量を検出する突出量検出手段とを含むことを特徴とする容器の検査装置。

IPC (3件)：

G01B 21/20 ,  B07C 5/10 ,  G01B 11/24

FI (3件)：

G01B 21/20 Z ,  B07C 5/10 ,  G01B 11/24 Z

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭64-057114
  
• 特開昭64-057114