特許
J-GLOBAL ID：200903089112791414
ガスクロマトグラフ質量分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-156912
公開番号（公開出願番号）：特開平8-327622
出願日： 1995年05月30日
公開日（公表日）： 1996年12月13日
要約：
【要約】【目的】 従来のガスクロマトグラフ装置と構造を共通化し、設置平面スペースを小さくする。【構成】 質量分析部12をカラム用オーブン(ガスクロマトグラフ部11の筐体)の上に載置する。また、質量分析部12のケースを、試料導入口、電気導通口及び真空吸引口を有する平面状のベース板と、それに固定された質量分析装置を気密に囲うカバーで構成する。【効果】 通常の検出器を用いるガスクロマトグラフ装置と同様、試料流出口を上面に設けることができる。
請求項（抜粋）：
ガスクロマトグラフ用カラムを収納したオーブンの上部に質量分析装置を載置したことを特徴とするガスクロマトグラフ質量分析装置。
IPC (4件)：
G01N 30/72
, G01N 27/62
, G01N 30/54
, H01J 49/26
G01N 30/72 A
, G01N 27/62 C
, G01N 30/54 C
, H01J 49/26
