特許

J-GLOBAL ID：200903089119966880

ランダムアクセスメモリの検査方法

発明者： 上村 隆
出願人/特許権者： 日本ビクター株式会社
代理人 (1件)： 下田 容一郎 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-024651
公開番号（公開出願番号）：特開平5-189998
出願日： 1992年01月14日
公開日（公表日）： 1993年07月30日
要約：

【要約】【目的】 データ処理システム等の立ち上げ時等において、RAM(ランダムアクセスメモリ)が正常に動作しているか否かを高速にチェックする。【構成】 CPU2によってテストパターンデータをRAM5内の特定のアドレス領域へ書き込んだ後に、ECCプロセッサ6を用いてテストパターンデータに基づくデータを生成し、この生成したデータをRAM内の他のアドレス領域へ展開することで、RAMの全領域への書き込み・読み出しを行ない、ECCプロセッサによって最終処理した結果のデータを判定することで、RAMの動作と同時にECCプロセッサの動作をチェックする。

請求項（抜粋）：

アドレス信号で指定されるデータ格納領域に複数ビットのデータを並列に書き込み・読み出しできるランダムアクセスメモリの検査方法であって、前記ランダムアクセスメモリ内のテスト対象領域を複数の行と複数の列に分けて管理し、ECCプロセッサを用いて前記ランダムアクセスメモリの全てのテスト対象領域へテストデータの書き込みを行なうとともに、前記書き込んだデータを前記ECCプロセッサを用いて前記行または列方向へ読み出して処理することで、前記ECCプロセッサの動作を含めて前記ランダムアクセスメモリの動作を前記行または列単位にチェックすることを特徴とするランダムアクセスメモリの検査方法。

IPC (2件)：

G11C 29/00 303 ,  G06F 12/16 310

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭59-068900
  
• 特開昭64-021557