特許
J-GLOBAL ID：200903089173357938
エレベータ制御回路基板の試験装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
武 顕次郎 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-312201
公開番号（公開出願番号）：特開平10-153635
出願日： 1996年11月22日
公開日（公表日）： 1998年06月09日
要約：
【要約】【課題】 従来技術は、エレベータの制御定数の測定試験時に誤って制御回路を電気的に破損させてしまったり、該測定試験を行う作業員に特別な経験や知識が要求されたり、制御定数の変更を作業員が一人で行うことが困難である等の問題点があった。【解決手段】 エレベータの制御定数測定用の試験装置を、制御回路基板1上の所定位置に設けられた端子装置7の複数本の試験端子7A〜7Dに結合可能なコネクタ9と、計測器(デジタルテスタ)8のリード棒8A,8Bにそれぞれ結合可能な接続アダプタ10A,10Bと、これらの接続アダプタ10A,10Bからそれぞれ導出されてコネクタ9に接続されているリード線11A,11Bとによって構成した。
請求項（抜粋）：
エレベータの制御回路が形成されている基板に、該制御回路の所定部位に接続するための複数本の試験端子を設け、これらの試験端子と計測器のリード棒とを導通させて前記制御回路の制御定数を電気的に検出する試験装置において、前記複数本の試験端子に結合可能なコネクタと、前記リード棒に結合可能な接続アダプタと、この接続アダプタと前記コネクタとを導通せしめるリード線とを備えていることを特徴とするエレベータ制御回路基板の試験装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
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