特許
J-GLOBAL ID:200903089208584746
膜パターンの形成方法、膜パターン形成装置、導電膜配線、電気光学装置、電子機器並びに非接触型カード媒体
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (3件):
渡邊 隆
, 志賀 正武
, 実広 信哉
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-277506
公開番号(公開出願番号):特開2004-119479
出願日: 2002年09月24日
公開日(公表日): 2004年04月15日
要約:
【課題】基板上の膜パターン形成領域に、形状の異なる複数のパターンを好適に形成する膜パターンの形成方法と、該形成方法によって得られる導電膜配線等を提供する。【解決手段】基板の表面を所望の撥液性に調整する第1の表面処理工程と、該第1の表面処理工程後の基板上に、第1配線1(第1のパターン)を形成する第1のパターン形成工程と、該第1のパターン形成工程後に、基板の表面の撥液性を劣化させる第2の表面処理工程と、該第2の表面処理工程後の基板上に、第1配線1と異なる形状を有する第2配線(第2のパターン)2を形成する第2のパターン形成工程とを備える。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
基板上に、パターン形成成分を含有する液状体からなる液滴を吐出し、所定のパターンを形成する膜パターンの形成方法において、
前記基板の表面を所望の撥液性に調整する第1の表面処理工程を含み、
該第1の表面処理工程後の前記基板上に、第1のパターンを形成する第1のパターン形成工程と、
該第1のパターン形成工程後に、前記基板の表面の撥液性を劣化させる第2の表面処理工程と、
該第2の表面処理工程後の前記基板上に、前記第1のパターンと異なる形状を有する第2のパターンを形成する第2のパターン形成工程と、
を有することを特徴とする膜パターンの形成方法。
IPC (3件):
H05K3/10
, H01L21/28
, H01L21/288
FI (3件):
H05K3/10 D
, H01L21/28 A
, H01L21/288 Z
Fターム (32件):
2H092MA02
, 2H092MA13
, 2H092NA25
, 2H092NA29
, 2H092PA01
, 4M104AA01
, 4M104AA10
, 4M104BB04
, 4M104BB05
, 4M104BB07
, 4M104BB08
, 4M104BB09
, 4M104BB36
, 4M104DD22
, 4M104DD51
, 4M104DD78
, 4M104DD79
, 4M104DD80
, 5E343AA02
, 5E343AA11
, 5E343AA38
, 5E343AA39
, 5E343BB15
, 5E343BB22
, 5E343BB72
, 5E343CC26
, 5E343DD12
, 5E343EE32
, 5E343EE36
, 5E343EE40
, 5E343ER33
, 5E343GG20
前のページに戻る