特許
J-GLOBAL ID：200903089345830444
測定用定盤及びその加工方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
牧 克次
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-250542
公開番号（公開出願番号）：特開平5-069215
出願日： 1991年09月03日
公開日（公表日）： 1993年03月23日
要約：
【要約】【目的】 測定用定盤の加工においてポケット加工を行なう場合、NC機を導入することにより、未熟練者でも精度の良いポケット加工を容易に、しかも、短時間で行なうことができるようにする。【構成】 測定用定盤1の測定面部分1aを平面研削盤を用いて平面研削加工を行なって所定平面度を有する面に形成した後、刃部の曲率半径が大きなボールエンドミル2を備えたNC機をプログラム制御して測定用定盤1の測定面部分1aに0.03〜0.05mmの深さを有する多数のポケット3を平面格子状等のパターンで形成する。
請求項（抜粋）：
測定用定盤の測定面部分を、平面研削盤等を用いて平面研削加工を行なって所定平面度を有する面に形成した後、刃部の曲率半径が大きなボールエンドミルを備えたNC機をプログラム制御して定盤の測定面部分に0.03〜0.05mmの深さを有する多数のポケットを平面格子状のパターンで形成することを特徴とする測定用定盤の加工方法。
IPC (2件)：
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