特許
J-GLOBAL ID：200903089441646824
X線回折装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
蛭川 昌信 (外7名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-013889
公開番号（公開出願番号）：特開平6-229951
出願日： 1993年01月29日
公開日（公表日）： 1994年08月19日
要約：
【要約】【目的】 低温領域から高温領域まで連続的に加熱冷却可能であるとともに、試料面における温度差を極力少なくし、かつ透過法、反射法による分析を可能にする。【構成】 ゴニオメータのθ軸に取り付けられて高さ調整可能な加熱冷却台座に支持された試料にX線を照射し、透過または反射X線を測定するX線回折装置であって、前記加熱冷却台座は、透過型試料ホルダが取り付けられるヒータにより加熱可能な加熱ブロックと、反射型試料板が着脱可能に取り付けられ、透過法、反射法において試料位置調整をし、透過法においてはθ軸固定、2θ軸を回転させ、反射法においてはθ軸と2θ軸を一緒に駆動して測定を行うことを特徴とする。
請求項（抜粋）：
ゴニオメータのθ軸に取り付けられて高さ調整可能な加熱冷却台座に支持された試料にX線を照射し、透過又は反射X線を測定するX線回折装置であって、前記加熱冷却台座は、液体窒素により冷却されるとともにヒータにより加熱可能であり、透過型試料ホルダが取り付けられるヒータにより加熱可能な加熱ブロックと、反射型試料板とが着脱可能に取り付けられることを特徴とするX線回折装置。
引用特許：
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