特許
J-GLOBAL ID:200903089462043062

回路パターンの電気的特性を測定する装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 合田 潔 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-196679
公開番号(公開出願番号):特開平8-166430
出願日: 1995年08月01日
公開日(公表日): 1996年06月25日
要約:
【要約】 (修正有)【目的】 各面に沿って延びる回路ならびに両面に沿って延びる個別の回路を有するフレキシブル基板上で、回路内の開路状態および隣接する回路間の短絡状態を検出するための固定治具を提供する。【構成】 固定治具18の一方のステーションにおいては、フレキシブル回路10が導電性裏当て板40,42に接して延び、開路状態を検出するための導電率測定が、裏当て板とは反対側の基板の第1の面上のテスト・ポイント間を移動する2つのプローブ32,38の間、およびこれらのプローブの一方と導電性裏当て板40,42の間で行われる。後者のタイプの測定は、特に、基板を貫通して延びるバイアの開路状態を検出するために使用される。
請求項(抜粋):
フレキシブル基板の両面に沿って延びる回路パターンの電気的特性を測定する装置において、前記装置を介して前記基板中を長手方向に送り、かつ前記基板を好ましい位置に停止させる手段と、その内部でのみ第1のプローブが前記基板の第1の面に隣接しそれと接触して移動可能であり、前記基板の前記第1の面とは反対側の前記基板の第2の面に隣接して延びる第1の裏当て板を含む、前記装置の第1のステーションと、その内部でのみ第2のプローブが前記基板の第2の面に隣接しかつそれと接触して移動可能であり、前記第1のステーションから前記長手方向にオフセット距離だけ変位し、前記基板の前記第1の面に隣接して延びる第2の裏当て板を含む、前記装置の第2のステーションと、前記第1および第2のプローブに接続された、回路特性を測定するための電子測定装置とを備える装置。
IPC (3件):
G01R 31/28 ,  G01R 27/02 ,  H05K 3/00
FI (2件):
G01R 31/28 H ,  G01R 31/28 K
引用特許:
審査官引用 (5件)
  • フレキシブル基板の位置決め装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平4-150346   出願人:松下電器産業株式会社
  • 特開平4-025775
  • 特開平4-050677
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