特許
J-GLOBAL ID:200903089466168218
乾燥装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
佐藤 一雄 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-356470
公開番号(公開出願番号):特開2002-162162
出願日: 2000年11月22日
公開日(公表日): 2002年06月07日
要約:
【要約】【課題】 基材に設けられた塗膜の性質を劣化させたり赤外線ヒータの温度低下を招くことのない赤外線乾燥装置を提供する。【解決手段】 赤外線乾燥装置10は塗膜が形成された基材15が走行するとともに、第1乾燥ゾーン10aと第2乾燥ゾーン10bとに仕切られた乾燥炉11と、乾燥炉11の第1乾燥ゾーン10a内の基材15上方に設けられた赤外線ヒータ16とを備えている。赤外線ヒータ16の上方に給気装置18と排気装置19が設けられ、給気装置18と排気装置19によって赤外線ヒータ16上方に、赤外線ヒータ16と、平行な空気流が形成される。基材15は予熱部30のホットプレート31上で予熱され、基材15の塗膜表面から除去された蒸発溶剤は排気機構32により排気される。基材15はその後、第1乾燥ゾーン10a内で赤外線ヒータ16により加熱されて基材15に対して恒率乾燥が行なわれ、次に第2乾燥ゾーン10b内で、熱風吹付装置26からの熱風により更に加熱され減率乾燥が行なわれる。
請求項(抜粋):
塗膜が形成された基材が内部を走行するとともに、この内部が走行する基材の上流側から順に第1乾燥ゾーンと、第2乾燥ゾーンとに仕切られた乾燥炉と、乾燥炉の入口側に設けられ、基材を載置して加熱するホットプレートを有する予熱部と、第1乾燥ゾーン内に設けられた第1乾燥機構と、第2乾燥ゾーン内に設けられた第2乾燥機構とを備えたことを特徴とする乾燥装置。
IPC (6件):
F26B 15/12
, B05D 3/02
, F26B 3/04
, F26B 3/20
, F26B 3/30
, F26B 21/00
FI (6件):
F26B 15/12 A
, B05D 3/02 E
, F26B 3/04
, F26B 3/20
, F26B 3/30
, F26B 21/00 B
Fターム (21件):
3L113AA02
, 3L113AA03
, 3L113AB02
, 3L113AB05
, 3L113AB06
, 3L113AC08
, 3L113AC10
, 3L113AC31
, 3L113AC45
, 3L113AC46
, 3L113AC48
, 3L113AC67
, 3L113BA34
, 3L113CB05
, 3L113CB06
, 3L113CB21
, 3L113DA10
, 3L113DA24
, 4D075BB24Y
, 4D075BB37Y
, 4D075DB13
引用特許: