特許

J-GLOBAL ID：200903089479553510

検出装置

発明者： 坂田 雅一 ,  藤田 政行 ,  西尾 佳高 ,  柴田 賢一
出願人/特許権者： 三洋電機株式会社
代理人 (1件)： 岡田 敬
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-323047
公開番号（公開出願番号）：特開平8-178830
出願日： 1994年12月26日
公開日（公表日）： 1996年07月12日
要約：

【要約】【目的】 簡単な光検出手段を用いて粒子の大きさを識別できる検出装置を提供することを目的とする。【構成】 光源手段1と、光源手段1から出力した光が被照射物に照射されて生じる散乱光の互いに異なる2方向における光強度をそれぞれ検出するための光検出素子3、4と、を備え、前記光検出素子3、4で検出された光強度の比から被照射物の大きさを検出する。

請求項（抜粋）：

光源手段と、該光源手段から出力した照射光が被照射物に照射されて生じる散乱光の前記照射光の前記被照射物への入射方向とのなす角が互いに異なる複数の方向における光強度をそれぞれ検出するための光検出手段と、を備え、前記光検出手段で検出された前記複数の方向における光強度の比から前記被照射物の大きさを検出することを特徴とする検出装置。