特許
J-GLOBAL ID：200903089508590985
多点型歪み及び温度センサ
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
絹谷 信雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-300218
公開番号（公開出願番号）：特開平10-141922
出願日： 1996年11月12日
公開日（公表日）： 1998年05月29日
要約：
【要約】【課題】 多点での計測に適し、しかも温度と共に正確な歪みを計測できる多点型歪み及び温度センサを提供する。【解決手段】 歪みに応じて光反射ピーク波長が変化するFBG1を光ファイバ2に直列に複数挿入し、この光ファイバ2の一端より各FBG1からの特定波長aの反射光量をOTDRで測定すると共に、光ファイバ2中からの後方散乱光をOTDRで測定することにより光ファイバ2の長手方向に沿った温度分布を求め、この温度分布に基づき各FBG1の温度依存による反射光量変化分を補正し、この補正された反射光量から各FBG1における正確な歪み量を求める。
請求項（抜粋）：
歪みに応じて光反射ピーク波長が変化するファイバブラッググレーティング(FBG)を光ファイバに直列に複数挿入し、この光ファイバの一端より各FBGからの特定波長の反射光量をOTDRで測定すると共に、光ファイバ中からの後方散乱光をOTDRで測定することにより上記光ファイバの長手方向に沿った温度分布を求め、この温度分布に基づき各FBGの温度依存による反射光量変化分を補正し、この補正された反射光量から各FBGにおける歪みを求めることを特徴とする多点型歪み及び温度センサ。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01B 11/16 Z
, G01K 11/12 F
