特許

J-GLOBAL ID：200903089519627295

配線基板の検査方法及び検査装置

発明者： 大脇 良彦
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (1件)： 松隈 秀盛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-272843
公開番号（公開出願番号）：特開2001-101408
出願日： 1999年09月27日
公開日（公表日）： 2001年04月13日
要約：

【要約】【課題】 安定した良好な検査結果が得られるようにすることを目的とする。【解決手段】 被検査配線基板をカラー撮像するカラー撮像手段9aと、このカラー撮像手段9aよりのカラー画像における配線基板のランド21の形状を測定するランド形状測定手段2,3と、このランド形状測定手段2,3により測定したランド21の形状を基準にして電子部品22の実装位置を計測する計測手段2,3とより成るものである。

請求項（抜粋）：

被検査配線基板をカラー撮像してカラー画像を得、該カラー画像の前記配線基板のランドの形状を測定し、該ランドの形状を基準にして電子部品の実装位置を計測するようにしたことを特徴とする配線基板の検査方法。

IPC (4件)：

G06T 7/00 ,  G01B 11/00 ,  G01B 11/24 ,  H05K 13/08

FI (4件)：

G01B 11/00 H ,  H05K 13/08 Q ,  G06F 15/62 405 B ,  G01B 11/24 K

Fターム (31件)：

2F065AA03 ,  2F065AA16 ,  2F065CC01 ,  2F065DD04 ,  2F065FF01 ,  2F065GG02 ,  2F065GG12 ,  2F065GG24 ,  2F065HH02 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065KK02 ,  2F065PP22 ,  2F065QQ32 ,  2F065QQ33 ,  2F065RR07 ,  2F065SS13 ,  2F065UU05 ,  5B057AA03 ,  5B057CA01 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057DA07 ,  5B057DB02 ,  5B057DB06 ,  5B057DB09 ,  5B057DC02 ,  5B057DC09 ,  5B057DC16