特許
J-GLOBAL ID：200903089558517979
非線形光学材料評価装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-023951
公開番号（公開出願番号）：特開平6-242000
出願日： 1993年02月12日
公開日（公表日）： 1994年09月02日
要約：
【要約】【目的】 粉末法と全反射法を同時に測定できるような、コンパクトで廉価な非線形光学材料評価装置を提供すること。【構成】 基本波を発生するレーザ光源と、そのレーザ光を全反射せしめるための半円柱型のプリズムと、当該プリズムに試料を密着せしめる機構と、試料から発生した2次高調波の強度を測定する受光器と、受光器からの電気信号を処理し解析する解析器とより構成される。光をファイバーで導くことでコンパクト化を図り、試料の押しつけ治具を透明、あるいは高反射にすることで粉末法に適用した。
請求項（抜粋）：
基本波を発生するレーザ光源と、その偏光方向を調節するための光学系と、そのレーザ光を全反射せしめるための半円柱型のプリズムと、当該プリズムに試料を密着せしめる機構と、試料から発生した2次高調波の強度を測定する受光器と、受光器からの電気信号を処理し解析する解析器とより構成される非線形光学材料評価装置において、基本波を光ファイバーを用いてプリズムに入射せしめる機構と、プリズムより出射した2次高調波を光ファイバーに入射し、受光器に導く機構の少なくとも一方を有することを特徴とする非線形光学材料評価装置。
IPC (4件)：
G01N 21/63
, G01M 11/00
, G01N 21/27
, G02F 1/35 503
