特許
J-GLOBAL ID：200903089594492680
レーザ非接触伸び計
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
倉内 義朗
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-092185
公開番号（公開出願番号）：特開平9-280832
出願日： 1996年04月15日
公開日（公表日）： 1997年10月31日
要約：
【要約】【課題】 試験の進行に伴って試験片の状態が変化しても、確実にスペックルパターンを捕らえて伸びを計測し得るレーザ非接触伸び計を提供する。【解決手段】 試験片Wによるレーザ光の散乱光を入射するイメージセンサbの出力に含まれるスペックルパターンのコントラストが設定値以上となるように、センサ駆動回路cからのスタートパルスの供給周期を自動的に変化させるセンサ露光時間制御手段eを設けることで、試験片Wの状態変化に対応した最適な露光時間のもとにスペックルパターンを光電変換する。
請求項（抜粋）：
試験片の表面にレーザ光を照射する照射光学系と、そのレーザ光の試験片表面による散乱光を光電変換する複数チャンネルのイメージセンサと、そのイメージセンサに対して刻々と駆動信号を供給して、その信号供給インターバルに対応する露光時間ごとに当該イメージセンサの各チャンネルに蓄積された電荷をセンサ出力として読みだすセンサ駆動回路と、刻々と読み出されるセンサ出力を用いて、上記散乱光に含まれるスペックルパターンの移動量を算出し、その算出結果に基づいて試験片の伸びを算出する演算手段を備えた伸び計において、刻々と読み出されるセンサ出力を用いて、当該出力中のスペックルパターンのコントラストが設定値以上となるよう、上記センサ駆動回路からの駆動信号の供給周期を変化させるセンサ露光時間制御手段を備えていることを特徴とするレーザ非接触伸び計。
IPC (2件)：
FI (2件)：
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