特許
J-GLOBAL ID：200903089637483338
X線装置
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-087556
公開番号（公開出願番号）：特開平5-253219
出願日： 1992年03月12日
公開日（公表日）： 1993年10月05日
要約：
【要約】【目的】撮影距離に応じて撮影条件を補正するようになされたX線装置において、超音波距離計を使用した撮影距離の測定精度を高め、撮影像の質の向上を図る。【構成】撮影距離を測定する超音波距離計を、超音波振動子の発射用又は受波用のどちらか一方(4又は8a)をX線源2側に配し、他方(8a又は4)を移動型としてX線源2からの距離を測定したい位置におき、発射用振動子4から発せられた超音波5を反射させることなく受波用振動子8aで直接受波できる構成とし、超音波発射から受波までの時間により発射用振動子4から受波用振動子8aまでの距離(撮影距離)を測定する構成とする。
請求項（抜粋）：
予め設定された撮影条件を、X線源から被写体又は受像面までの実測距離に応じて補正するために超音波距離計を備えたX線装置において、上記超音波距離計は、一方の超音波振動子から発せられた超音波が、他方の超音波振動子に達するまでの時間を測って、上記両振動子間の超音波経路の距離を測定する超音波距離計で、上記一方の超音波振動子は上記X線源近傍に配置され、他方の超音波振動子は上記被写体又は受像面の任意の位置に移動可能になされ、超音波発射側の超音波振動子からの超音波を受波側の超音波振動子で直接受波可能としたことを特徴とするX線装置。
IPC (2件)：
A61B 6/08 307
, G01S 11/14
