特許

J-GLOBAL ID：200903089685541536

粒子凝集検査装置における光学系補正装置

発明者： 古田 敏之 ,  横森 保彦 ,  大田 正人 ,  須田 英雄 ,  木田 正吾 ,  菊地 富士子
出願人/特許権者： スズキ株式会社
代理人 (1件)： 高橋 勇
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-322804
公開番号（公開出願番号）：特開平6-148066
出願日： 1992年11月06日
公開日（公表日）： 1994年05月27日
要約：

【要約】【目的】 粒子の凝集パターンを判定する装置の光学系のばらつきを補正する補正装置を提供すること。【構成】 マイクロプレートの複数のウェルからの透過光をCCDラインセンサ上に結像し、光学系およびCCDラインセンサとマイクロプレートとを相対的に移動させて、各ウェルの粒子の凝集パターンに対応する出力信号を発生し、光学系およびCCDラインセンサの移動を制御したときの出力信号から各ウェルにおける凝集パターンを得る粒子凝集検査装置において、各レンズ系の明るさの補正係数を保持するFIFOメモリ41と、CCDラインセンサの出力を補正係数で補正した値を出力するROM44とを設けて、各ウェルの凝集パターンを表す出力を光学系のばらつきに応じて補正した値を即時に得る。

請求項（抜粋）：

マイクロプレートに配設された複数のウェルからの透過光を各ウェルに対応して設けられたレンズ系を有する光学系を介してCCDラインセンサ上に結像し、該光学系およびCCDラインセンサとマイクロプレートとを相対的に移動させて、各ウェルにおける液体中の粒子の凝集パターンに対応する出力信号を得る凝集検査部と、前記光学系およびCCDラインセンサの移動を制御することによって前記出力信号から各ウェルにおける凝集パターンを得る画像処理部とを備えた粒子凝集検査装置において、前記画像処理部において算出された各ウェルに対応する各レンズ系の明るさの違いを補正する補正係数を保持する先入れ先出し記憶手段(41)と、各ウェルごとの前記CCDラインセンサ出力を該各ウェルに対応する複数の異なる補正係数によって補正した値を記憶し、CCDラインセンサの出力に応じて前記先入れ先出し記憶手段(41)に保持された補正係数によって補正された値を出力するROM(44)とを設け、CCDラインセンサ(19)の出力に対応して前記先入れ先出し記憶手段(41)に保持された補正係数によって補正した値を出力し、各ウェルにおける前記凝集パターンに対応する出力を光学系のばらつきに応じて補正した値を得ることを特徴とした粒子凝集検査装置における光学系補正装置。

IPC (6件)：

G01N 21/17 ,  G01N 15/00 ,  G01N 15/06 ,  G01N 15/14 ,  G01N 33/536 ,  G01N 33/543