特許
J-GLOBAL ID：200903089694673380
X線分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
横川 邦明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-349032
公開番号（公開出願番号）：特開平5-159728
出願日： 1991年12月06日
公開日（公表日）： 1993年06月25日
要約：
【要約】【目的】 1つのX線管をX線源として多くのX線利用装置をそのX線管のまわりに設置した場合にも、各X線利用装置が互いに他の装置を位置的に邪魔しないようにして、各X線利用装置を楽に操作できるようにする。【構成】 X線管2の内部において陰極6から放射された電子を対陰極5に衝突させて該対陰極5からX線を発生する。X線管2には水平方向にX線取出し用窓7a,7bが設けられ、さらに垂直方向にX線取出し用窓7c,7dが設けられる。窓7a,7bを介して取り出されるX線を利用するX線利用装置8,9をX線管2の横方向位置に設置する。窓7c,7dを介して取り出されるX線を利用するX線利用装置11,29をX線管2の上下方向位置に設置する。
請求項（抜粋）：
X線管の内部において陰極から放射された電子を対陰極に衝突させて該対陰極からX線を発生し、X線管の水平位置に設けたX線取出し用窓からX線を外部に取り出し、水平テーブル上に配設されたX線利用装置にそのX線を導くようにしたX線分析装置において、上記対陰極は、水平方向及び垂直方向へ向けてX線を発生することができ、上記X線管の垂直方向下側の側面にX線取り出し用窓が設けられ、そのX線取り出し用窓から外部へ取り出されたX線を利用するX線利用装置を上記水平テーブルの下方位置に設けたことを特徴とするX線分析装置。
IPC (2件)：
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