特許
J-GLOBAL ID：200903089729030291
配光測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小谷 悦司 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-007979
公開番号（公開出願番号）：特開平10-206231
出願日： 1997年01月20日
公開日（公表日）： 1998年08月07日
要約：
【要約】【課題】 被測定光源の配光を高精度で測定することができる配光測定装置を提供する。【解決手段】 楕円面鏡2は、その第1の焦点22が被測定領域11の近傍位置に位置するように配置される。また、楕円面鏡2には、当該第1の焦点22を含み、しかも回転対称軸21に直交する仮想直交面24上で回転対称軸21と平行に一定の幅を持つ楕円反射面23が、回転対称軸21回りに180 ゚にわたって設けられており、被測定領域11から出射した光を反射し、この被測定領域11の強度分布像4を光学的焦点面上に形成する。そして、撮像部6がこの強度分布像4を撮像するとともに、この強度分布像4に基づき演算制御部が配光を演算する。
請求項（抜粋）：
第1の焦点が被測定光源の被測定領域の近傍に配置されるとともに、前記第1の焦点を含みしかも前記回転対称軸に直交する仮想直交面上に位置する楕円反射面によって前記被測定領域から出射した光を第2の焦点に集光する楕円面鏡と、前記被測定領域から出射する平行光束が前記楕円反射面によって集光する光学的焦点面上に、前記楕円面鏡によって形成される前記被測定領域の強度分布像を撮像する撮像部と、前記撮像部によって撮像された強度分布像に基づき前記被測定領域における配光を求める演算制御部とを備えたことを特徴とする配光測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01J 1/42 E
, G01J 1/00 E
