特許

J-GLOBAL ID：200903089842352459

三次元形状計測方法および三次元形状計測装置

発明者： 鎌田 照己
出願人/特許権者： 株式会社リコー
代理人 (1件)： 柏木 慎史 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-329387
公開番号（公開出願番号）：特開2002-131031
出願日： 2000年10月27日
公開日（公表日）： 2002年05月09日
要約：

【要約】【課題】 計測対象空間内の物体の三次元形状を計測する際の画像入力時間の短縮を図る。【解決手段】 二次元カメラの1フレーム露光時間中における各スリット光をそれぞれ異なる露光量で前記物体にそれぞれ投影する工程と、前記物体にそれぞれ投影された前記各スリット光の露光パターンを多値画像として取り込む工程と、前記各スリット光毎に露光量が異なることにより発生する前記領域毎の露光総量の差を空間コードに変換処理する工程と、を含む。これにより、各露光パターン毎の露光量が変化することから各領域毎にどの露光パターンが照射されたかを検出することができるようになるので、従来複数回に分けて入力していた空間コードを1回で入力することができ、画像入力時間の短縮を図ることができる。

請求項（抜粋）：

位相や周期の異なる複数のスリット光を順次照射して計測対象空間を複数の領域に空間コード化し、その計測対象空間内の物体の三次元形状の計測を行う三次元形状計測方法において、二次元カメラの1フレーム露光時間中における各スリット光をそれぞれ異なる露光量で前記物体にそれぞれ投影する工程と、前記物体にそれぞれ投影された前記各スリット光の露光パターンを多値画像として取り込む工程と、前記各スリット光毎に露光量が異なることにより発生する前記領域毎の露光総量の差を空間コードに変換処理する工程と、を含むことを特徴とする三次元形状計測方法。

IPC (3件)：

G01B 11/24 ,  G06T 1/00 315 ,  G06T 1/00 420

FI (3件)：

G06T 1/00 315 ,  G06T 1/00 420 C ,  G01B 11/24 K

Fターム (43件)：

2F065AA04 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065DD06 ,  2F065FF04 ,  2F065HH07 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL28 ,  2F065LL30 ,  2F065LL53 ,  2F065NN02 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ26 ,  2F065QQ31 ,  5B047AA07 ,  5B047AB02 ,  5B047BA02 ,  5B047BB04 ,  5B047BC06 ,  5B047BC11 ,  5B047CA19 ,  5B047DB01 ,  5B047DC20 ,  5B057AA01 ,  5B057AA05 ,  5B057BA02 ,  5B057BA15 ,  5B057BA19 ,  5B057BA29 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB08 ,  5B057CB13 ,  5B057CB16 ,  5B057CB18 ,  5B057CD14 ,  5B057CH08 ,  5B057CH18 ,  5B057DA17