特許
J-GLOBAL ID：200903089860409212
自動分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
外川 英明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-252398
公開番号（公開出願番号）：特開2002-062300
出願日： 2000年08月23日
公開日（公表日）： 2002年02月28日
要約：
【要約】【課題】 試料種別に依存することなくQC結果を得ることができ、精度管理の負担を軽減することが可能な自動分析装置を提供する。【解決手段】 測定結果表示画面1に表示された試料名4に対して精度管理(QC)計算に用いる試料名4を選択する。選択された試料名4は選択範囲2にて表示される。選択範囲2についての測定値5によりQC計算が行われ、これはQC計算ボタン3にて指示される。QC計算は選択範囲2の測定値5のうち、同じ項目同士か、あるいは全ての項目同士かを選択して行われる。
請求項（抜粋）：
各試料の測定結果を記憶する測定結果記憶手段と、前記測定結果を試料毎に表示する測定結果表示手段と、前記表示された測定結果を試料毎に選択する選択手段と、前記選択された複数の試料における同じ項目間の測定結果について精度管理演算を行う演算手段とを備えることを特徴とする自動分析装置。
Fターム (3件)：
2G058AA05
, 2G058GD01
, 2G058GD07
