特許
J-GLOBAL ID:200903089882624427
絶縁劣化診断方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
曾我 道照 (外6名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-006321
公開番号(公開出願番号):特開2002-214121
出願日: 2001年01月15日
公開日(公表日): 2002年07月31日
要約:
【要約】【課題】 電気的、化学的、環境的なストレス要因により劣化が進行するという課題があった。【解決手段】 イオン試験紙を純水に浸すステップと、前記純水を含んだイオン試験紙4を絶縁物6の表面に押し当てるステップと、前記イオン試験紙の変化した色に基き、前記絶縁物表面に付着した硝酸イオンのイオン濃度を測定するステップと、予め求めたイオン濃度と絶縁劣化度の相関関係に基き、前記測定した硝酸イオンのイオン濃度から前記絶縁物の絶縁劣化を検出するステップを含む。【効果】 電気的、化学的、環境的なストレス要因が複合的に影響する絶縁劣化に即した診断が可能になる。
請求項(抜粋):
絶縁物表面に付着したイオン性物質の濃度に基いて絶縁劣化を診断するステップを含むことを特徴とする絶縁劣化診断方法。
IPC (4件):
G01N 17/02
, G01N 31/00
, G01N 31/22 121
, G01N 31/22
FI (6件):
G01N 17/02
, G01N 31/00 J
, G01N 31/00 Q
, G01N 31/00 P
, G01N 31/22 121 F
, G01N 31/22 121 N
Fターム (20件):
2G042AA01
, 2G042BA05
, 2G042BA08
, 2G042BA10
, 2G042BB08
, 2G042BB13
, 2G042BB18
, 2G042CB06
, 2G042DA08
, 2G042FA11
, 2G042FB07
, 2G050AA04
, 2G050BA02
, 2G050BA03
, 2G050BA04
, 2G050CA01
, 2G050DA01
, 2G050EA06
, 2G050EB02
, 2G050EB03
引用特許:
前のページに戻る