特許

J-GLOBAL ID：200903089905488356

論理回路故障診断装置、診断方法、記録媒体

発明者： 浜村 誠一
出願人/特許権者： 日本電気株式会社
代理人 (1件)： ▲柳▼川 信
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-355376
公開番号（公開出願番号）：特開2001-174527
出願日： 1999年12月15日
公開日（公表日）： 2001年06月29日
要約：

【要約】【課題】 与えられた論理回路の故障を精度よく推定する。【解決手段】 テストパタン作成器4は、与えられた論理回路を状態遷移機械とみなして得た状態遷移図を用いて、状態から状態への全ての遷移をテストするレジスタレベル故障診断用テストパタンを生成する。レジスタレベル故障診断器5はテストパタン作成器4が生成したテストパタンを用いて、レジスタレベルの故障診断を行うことにより、ゲートレベル故障診断を行うための情報を生成する。この情報を用いて、ゲートレベル故障診断器6はゲートレベルの故障診断を行う。

請求項（抜粋）：

動作記述レベルで記述された論理回路設計データを読込む手段と、この読込んだ論理回路設計データについて状態遷移機械の記述として状態遷移図を作成する手段と、この作成した状態遷移図を基にレジスタを故障候補の対象とした故障箇所特定のための論理回路テストパタンを作成する手段と、この作成した論理回路テストパタンにより論理回路をテストして故障が検出されるテストパタンを抽出する手段と、この抽出したテストパタンについてゲートレベルの故障診断を行うことにより前記論理回路を誤って動作させるテストパタンを抽出し、それら誤った動作を行ったテストパタンでの前記論理回路の内部動作を推測するゲートレベル故障診断を行う手段とを含むことを特徴とする論理回路故障診断装置。

IPC (3件)：

G01R 31/3183 ,  G01R 31/28 ,  G06F 17/50

FI (3件)：

G01R 31/28 Q ,  G01R 31/28 F ,  G06F 15/60 670 K

Fターム (8件)：

2G032AB20 ,  2G032AC08 ,  2G032AE07 ,  2G032AE08 ,  2G032AE10 ,  2G032AG01 ,  5B046AA08 ,  5B046BA09