特許
J-GLOBAL ID：200903090023223354
光ファイバ温度分布センサ
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-155523
公開番号（公開出願番号）：特開平5-346353
出願日： 1992年06月16日
公開日（公表日）： 1993年12月27日
要約：
【要約】【目的】アンチストークス光とストークス光の減衰率差、その温度依存性に起因する温度誤差を補償し、正確な温度を算出することを主要な目的としている。【構成】アンチストークス光とストークス光の強度比をサンプリングによる時系列データとして測定し、かつ少なくとも1点の温度参照点の温度を求め、予め求めた後方散乱地点でのアンチストークス光とストークス光の理想的強度比と温度の関係より温度参照点での理想的強度比を求め、温度が既知の測定点近傍の複数個の測定点の各強度比データと、理想的強度比と温度の関係との間に成立つ予め求めたアンチストークス光とストークス光の減衰率差と温度の関係を含む関係式より、既に温度と理想的強度比を算出した測定点での強度比データからその近傍の温度未算出測定点での理想的強度比を算出し、理想的強度比から理想的強度比と温度の関係より理想的強度比を算出した点での温度を求めることを特徴としている。
請求項（抜粋）：
光ファイバにパルス光を入射し、前記光ファイバ内のラマン効果によって生じる後方散乱光のアンチストークス光とストークス光の強度をサンプリングして時系列データとして測定し、当該時系列データの順序が前記光ファイバに沿った距離に対応することを利用して、これらの強度データから前記光ファイバに沿った温度分布を求めるようにした光ファイバ温度分布センサにおいて、前記アンチストークス光とストークス光の強度比をサンプリングによる時系列データとして測定すると共に、少なくとも1点の温度参照点の温度を別手段により求め、あらかじめ求められた前記後方散乱された地点におけるアンチストークス光とストークス光の理想的強度比と温度の関係を用いて前記温度参照点での理想的強度比を求め、温度が既知である測定点近傍の複数個の測定点のそれぞれの強度比データと、前記理想的強度比と温度の関係との間に成り立つあらかじめ求められた前記光ファイバ中のアンチストークス光とストークス光の減衰率差と温度の関係を含む関係式を用いて、既に温度と前記理想的強度比が算出されているかまたは別手段により求められている測定点での前記強度比データからその近傍のまだ温度を算出していない測定点での理想的強度比を算出し、当該算出した理想的強度比から前記理想的強度比と温度の関係を用いて前記理想的強度比を算出した点での温度を求める温度算出手段を備えて成ることを特徴とする光ファイバ温度分布センサ。
IPC (2件)：
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